サブ基板の出玉性能への関与、NGになる見通し

日電協（里見治理事長）は9月12日、東京都台東区の同組合事務局で「警察庁からの指摘事項に関する説明会」を開催。

佐野慎一技術委員長と中西馨技術部長らが出席する中、8月28日に同庁から通告を受けた「9月16日申請分から変更されるパチスロの型式試験方法」の内容を公表した。

変更点は、通常中ならびに、AT・ART中ともに最低の出玉率となる遊技方法で試験するというもの。
中西技術部長は「ペナルティーの利用により、通常ベースを低く設計し、消費ペースが非常に早い遊技機が散見されるためとの指摘を受けた」と説明。

影響を受けるのは高純増のAT／ART機だとして、ホール5団体に「純増2枚以上のAT機は設計の見直しが必要になる見通し」だと報告したという。
また、「今後、出玉性能は主基板のみで制御する形に移行する」ことも発表。

佐野委員長は「5号機は主基板のみで出玉性能を制御するはずだったのに、いつの間にか周辺基板を使った指示機能が大きな影響を及ぼすようになった。それを原点に戻そうという話」とコメント。

すぐに移行するのは難しいので、まずはサブ基板の出玉性能への影響の度合いを抑えることになったとし、「主基板制御への完全移行日は、日工組とも相談した上で近々に決定したい」と述べた。

提供元:プレイグラフ